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气密性测试仪泄漏率的校准方法

2021-06-07 技术售后部

气密测试仪泄漏率的校准方法:

物理法则第一条:世界上不存在不漏的容腔。

每个工艺部件都有这样或那样的缺点——没有什么东西是“绝对密封的”。我们所谓的密封性好坏是指在测试系统中规定最大漏气量是否满足的要求的一种规定而已。

气密性(密封性)的标准必须针对相应需要分别进行定义和量化。介质的泄漏量可以用“漏率”来表示。漏率为在特定条件下通过泄漏点的具体流体的通过量。这种介质转移所造成压力梯度或浓度差就需要以泄漏率来进行定义和量化。以下我们以国内常用两种不同校准原理的检漏仪为实例,对泄漏压降进行泄漏率校准。

一、以ATEQ、英诺太科气密测试仪代表的测漏仪校准:

泄漏率的校准:

在流量测试方式下,数值标准界面中会显示泄漏率值。会显示流量值的单位(如ml/min)。另外在流量测试方式下必须输入工件的容积值。这时就需准备预定做的标准泄漏件(标准漏口);

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1、标准泄漏件的校准步骤;

①准备好一个完全不泄漏(或者泄漏值最小)的合格品,连接后, 进入测试界面

②选择相应的程序测试后进行10 次测试,每次间隔至少在30 秒钟,记录下10 次的压降,取其平均值;

③将平均值补偿到程序参数offset(数据偏移) 中;

④接上标准泄漏件后进行10测试,每次间隔至少在30秒钟,记录下10次的压降,取其平均值;

参考泄漏量的换算公式:

单位时间内的泄漏量与差压之间的关系可以用下面公式计算

Q: 泄漏量[ml/min]

△P:压差(pa)

Ve: 等效容积[ml]

T: 检测时间[s]

检漏仪使用标准大气压来进行这项计算。如果测试时的大气压是标准大气压,即1.013X105、气温是标准的20"C,即可以算出标准状态下的单位时间内的泄漏量。

⑤将已知数值:Q: 泄漏量[ml/min](标准泄漏件的泄漏量)、△P:压差(pa)(接上标准泄漏件后10测试的平均值)和T: 检测时间[s]代入以上公式,可以计算出Ve: 等效容积[ml]

⑥将计算得到的Ve值填入程序中的体积值,测试方式选择“流量”。连接按“测量” 进入测试界面,启动测试

测试结果如果比“标准泄漏件(1sccm)”的数值小,则将“体积值”调大 ↑。

测试结果如果比“标准泄漏件(1sccm)”的数值大,则将“体积值”调小 ↓。


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二、以美国CTS气密测试仪代表的测漏仪校准:

      校准步骤:

      1、把标准漏孔装进仪器阀板内部,然后到程序设置,漏孔参数页面把漏孔参数输入进去。

    2、准备一个零泄漏的标准样机,链接到仪器,然后按仪器的校准按钮,仪器会自动进行泄漏率校准。过程无需干预。

      3、仪器校准过程,会连续测两次,第一次是测试标准件的泄漏压降,第一次是测试标准件+打开漏孔的泄漏压降。然后根据两者的测试数据系统根据公式自动生成压降与泄漏率对应的关系。

仪器校正的目的:

1、        屏蔽检测过程中的一些干扰因素;

2、        记录被测工件的临界泄漏率,把压降与泄漏率关系一一对应起来。

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如上图所示:

1、由于温度、环境的影响,总是会有一定的干扰,仪器校正的第一过程就是在检测口接上标准件(我们认为合格的工件),关闭漏孔,这时候仪器测出来的泄漏率主要是由非泄漏因素引起的泄漏量,仪器先把这个值记下来。

2、仪器校正的第二个过程是接上标准件、打开漏孔检测,这时候的泄漏率漏孔引起的泄漏量加上非泄漏因素引起的泄漏量。系统也把这个值记下来,然后减去之前非泄漏因素引起的泄漏量,剩下的就是纯漏孔泄漏。仪器就把下图的曲线记录在仪器里面。

3、之后工件的每一次检测值,都会跟用下图曲线作比较,并计算出相应的泄漏率

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五、仪器校正注意事项:

1)仪器校正具有重要意义,它能够评估仪器跟整套系统正常状态,并把非泄漏因素引起的泄漏屏蔽掉,因此我们建议客户:在环境、温度变化较大的情况下,建议要对仪器重新做一次校正!!因为仪器校正效果的好坏,直接影响整一批的检测结果。所以,正常情况下建议仪器校正需要专业人员来操作。

2)如果关键参数改变、测试系统改变,应该对仪器进行校正。例如:测试压力改变、测试节拍修改,测试容积改变等等都必须对仪器进行校正。

3)标准件要由专人妥善保管。

4)建议每次校正之前,把校正前、后的参数记录下来,以便查证。


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对于以上两种方式,不同厂家的不同的方式,具体得看选择的是什么品牌。如果对校准有什么疑问,可以咨询(广州卡轮www.karlun.cn)


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